Когда на израильском заводе международной корпорации Flextronics, являющейся крупнейшим в мире контрактным изготовителем печатных плат (ПП), столкнулись с беспрецедентным потоком отказов в собранных ПП с исключительно высокой плотностью монтажа, Михаил Долькин, менеджер новой продукции, находился в весьма затруднительной ситуации.

«Поскольку на нашем заводе нет ни подготовленных специалистов, ни соответствующих программно-аппаратных средств для JTAG-тестиро-вания», рассказывает Михаил, «мы обратились за помощью к фирме StarTest, имеющей многолетнюю прекрасную репутацию на израильском рынке высоких технологий. Программы тестирования, полученные от StarTest, зарекомендовали себя наилучшим образом также и у нас».

Современные ПП израильских электронных компаний, изготавливаемые на заводе Flextronics Israel в Мигдаль-Аэмеке, имеют очень высокую плотность монтажа интегральных микросхем (ИС) в корпусах fine-pitch и BGA. При такой плотности монтажа физический доступ к контрольным точкам на поверхности ПП и к самим ИС попросту отсутствует, так что использование тестеров ICT для обнаружения и локализации дефектов сборки элементов SMT малоэффективно.

«Мы давно и много применяем тестеры ICT для внутрисхемного тестиро-вания в тесной кооперации с фирмой StarTest, разрабатывающей для нас также и программы ICT-тестирования, однако для некоторых ПП такое тестирование невозможно или неоправданно», объясняет Михаил. «Поэтому мы обратились к тестированию методом граничного сканиро-вания (JTAG). Мы используем оба эти метода тестирования как взаимо-дополняющие, что дает замечательные результаты. Поскольку плотность монтажа контрактных ПП неуклонно растет, а большинство современных ИС имеют встроенную структуру JTAG, мы все чаще, практически для любой современной ПП, применяем технологию тестирования методом граничного сканирования, а фирма StarTest разрабатывает для нас высокоэффективные программы JTAG- и ICT-тестирования».

StarTest обеспечивает для Flextronics Israel разработку и поддержку про-грамм JTAG-тестирования и внутрисхемного программирования на плат-формах Corelis (США) и JTAG Technologies (Голландия). Эти программы позволяют легко обнаруживать такие наиболее часто встречающиеся неисправности сборки ПП, как перемычки и короткие замыкания. Диаг-ностические возможности программ тестирования StarTest указывают на место неисправности (контакт ИС или цепь схемы) с весьма высокой точностью, что позволяет быстро устранить неисправность.

«На нашем заводе вовсе не планируется разработка и поддержка программ тестирования собственными силами», заключает Михаил Долькин, «поскольку сотрудничество с компанией StarTest себя полностью оправдывает. Профессионалы StarTest работают ответственно и эффективно для обеспечения высокого качества нашей продукции».

«Схемы разрабатываемых у нас плат очень сложные. Некоторые из компаний, обеспечивающих услуги по тестированию в технологиях граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT), к которым мы обратились, сочли степень сложности наших плат препятствием для получения ожидаемого нами уровня тестового покрытия», - рассказывает Ран Сoломон, менеджер группы автоматизированных средств тестирования крупной израильской компании Voltaire, разрабатывающей системы магистральных интерфейсов для компьютерных сетей центров данных следующего поколения. «Однако профессионалы фирмы StarTest, проведя глубокий анализ нашей схемотехники, убедили нас в том, что при улучшении тестопригодности наших схем мы сможем получить требуемый уровень тестового покрытия».

«Действительно, специалисты StarTest исправили наши схемы, устранив некоторые избыточные элементы (как пассивные, так и активные) и добавили в схемы некоторые новые элементы, небольшие и дешевые. Структура цепочек граничного сканирования наших схем также была существенно изменена. Затем мы получили от StarTest предварительную оценку ожидаемого уровня тестового покрытия, которое уже было намно-го лучше, чем раньше. Мы переработали наши схемы для получения приемлемых тестовых кластеров для аналоговых и цифро-аналоговых микросхем, краевых разъёмов и других схемных фрагментов, содержа-щих микросхемы в корпусах BGA. В результате короткого и итеративного процесса анализа тестопригодности и реализации соответствующих реко-мендаций DFT профессионалов StarTest мы были в состоянии находить дефекты в наших платах в течение считанных секунд. Разработанные ими программы JTAG-тестирования во всех случаях указывали на место неисправности с точностью до ножки микросхемы или имени цепи», - продолжает Ран.

«Время обнаружения дефектов и затраты на их обнаружение существен-но уменьшились. Я уверен, что при помощи фирмы StarTest и для всех следующих наших разработок мы сможем заметно поднять производи-тельность сборки исправных плат и совершенно исключить влияние на них возможных дефектов пайки».

«Подход к структурному тестированию одной из крупнейших израильских компаний Alvarion®, более трех миллионов систем которой работают в 150 странах, включая Россию, на протяжении многих лет заключается в тесном сочетании тестов ICT и граничного сканирования (JTAG)» - рассказывает Моти Эзра, менеджер отдела автоматического тестового оборудования (АТО).

«Наши требования к тестопригодности и уровню обнаружения неисправностей исключительно высоки, поскольку это является одним из важнейших факторов обеспечения качества и надежности наших изделий и их высочайшей конкурентоспособности на мировом рынке. По этой причине мы искали наиболее ответственного и опытного разработчика тестов, с широкими возможностями и высоким уровнем обслуживания и поддержки всего этого спектра деятельности – от анализа тестопригодности наших схем на самых ранних этапах их проектирования и до тестовой поддержки производства наших плат на заводах Flextronics в Израиле и в Украине. На протяжении многих лет мы сотрудничаем с компанией StarTest в полной гармонии в разработках программ тестирования ICT и JTAG, а также обнаружения и анализа неисправностей наших изделий.

Мы на Alvarion очень довольны качеством обслуживания, получаемого от компании StarTest, и намерены продолжать наше плодотворное и эффективное сотрудничество и в дальнейшем».

Компания PMC-Sierra™ является мировым лидером в области разработок микросхем для широполосных и беспроводных средств связи, запоминающих устройств и лазерных принтеров. Гади Рахмани из филиала компании в Герцлии, Израиль, является техническим менеджером, ответственным за производство печатных плат (ПП) для испытаний и отладки новых микросхем. Гади обратился к фирме StarTest в поисках наиболее эффективного подхода к тестированию прототипов сложных ПП. Число контрольных точек в таких платах постоянно сокращается вследствие значительного повышения плотности монтажа и применения микросхем высокой интеграции в корпусах fine- pitch и BGA. Вследствие этого применение традиционных методов тестирования с зондами становится невозможным, а само тестирование ПП превращается в дорогостоящий и времяемкий процесс.

Инженеры-разработчики зачастую заходят в тупик, сталкиваясь с необходимостью тестирования современных сложных ПП, а поиск и обнаружение дефектов в них до того, как ПП проходят функциональное тестирование, приносят только разочарования. Эта проблема тестирования, будучи помноженной на невозможность физического доступа к критическим контрольным точкам, превращает процесс отладки ПП в главный фактор, фатально выбрасывающий разработчиков ПП из намеченного временного графика. Хорошо зная природу этих ловушек, Гади искал наиболее эффективное решение для ускорения и упрощения процесса начальной отладки ПП.

Тест-сервис фирмы StarTest позволил компании PMC-Sierra (Israel) готовить программы JTAG-тестирования еще до того, как оканчивается процесс сборки ПП. Сразу же после получения собранных ПП они проходят JTAG-тестирование. Еще до того, как первый код поступает на процессор ПП, плата тестируется на целостность межэлементных связей, проверяются ее элементы памяти, программируются ПЛМ, элементы флэш-памяти и FPGA, проверяется исправность монтажа большинства разъемов, а также внутрисхемная логика и значительная часть цифро-аналоговых микросхем.

«Тест-сервис фирмы StarTest исключительно эффективен», - утверждает Гади. «С его помощью мы находим дефекты сборки ПП и выполняем ее внутрисхемное программирование еще до того, как плата впервые включается в функциональный режим. Я уверен, что это экономит нам множество времени на обнаружение и поиск неисправностей. Мы очень довольны как уровнем обслуживания, получаемого от фирмы StarTest, так и их постоянной готовностью немедленно нам помочь.»

«Современные электронные платы и модули, разрабатываемые израиль-скими компаниями и изготавливаемые на заводе Zicon в Петах-Тикве, Израиль, имеют чрезвычайно высокую плотность монтажа микросхем в корпусах BGA и fine-pitch,» - говорит Марк Кривошей, тест-менеджер завода. «Тестовый доступ к цепям и контактам на поверхности платы и к самим микросхемам при такой плотности монтажа сильно затруднен, поэтому эффек-тивность тестирования ICT для поиска и локализации неисправностей пайки пассивных элементов и микросхем невелика».

«Тестирование ICT в сотрудничестве с компанией StarTest давно стало для нас привычным,» - продолжает Марк, «поэтому неудивительно, что для разработок программ JTAG-тестирования мы также обращаемся к ним, применяя эти оба метода тестирования зачастую к одним и тем же платам, что дает впечатляющие результаты. Плотность монтажа контрактных электронных узлов, изготовляемых у нас, постоянно увеличивается, так что почти во всех тест-программах имеется JTAG-часть, разрабатываемая компанией StarTest. Их программы дают нам возможность обнаруживать все наиболее часто встречающиеся дефекты пайки - короткие замыкания, перемычки, пропуски элементов, их неверную ориентацию и т.д.»

«Мы на Zicon считаем,» - заключает Марк, «что тесное сотрудничество со StarTest себя оправдывает в полной мере, поскольку уверены, что их поддержка заметно сказывается на повышении качества нашей продукции».