StarTest в России
ГРАНИЧНОЕ СКАНИРОВАНИЕ (JTAG) – ЭТО МЫ !
На стенде Издательского дома «Электроника» на выставке «ЭкспоЭлектроника»
(13-16 апреля 2009, Москва, Крокус Экспо) состоятся встречи читателей с авторами
цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования»
в журнале «Производство Электроники» - Ами Городецким и Леонидом Куриланом.
На встречах можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться
с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники
методами граничного сканирования (JTAG), и получить в подарок «флэшку» с уже опубликованными
статьями авторов.
Авторы также проведут 5 коротких получасовых лекций-семинаров по тематике цикла
на стенде В34 компании PCB Technology. Участие в семинарах бесплатное
и не требует предварительной записи.
Расписание и темы семинаров:
1. Цифровая технология граничного сканирования (JTAG) : 13 апреля, 15:00 - 15:30
2. Тесты граничного сканирования (JTAG) : 14 апреля, 15:00 - 15:30
3. Внутрисхемное тестирование (ICT) : 15 апреля, 13:00 - 13:30
4. Тестопригодное проектирование (DFT) : 15 апреля, 14:00 - 14:30
5. Тестопригодноcть и ее экономические аспекты : 15 апреля, 15:00 - 15:30
Цикл статей на русском языке
Ами Городецкого и Леонида Курилана
"Основы технологии граничного сканирования (JTAG)
и тестопригодного проектирования (DFT)" в журнале
Для бесплатной отсылки на Ваш адрес полного текста любой из этих статей пришлите
нам Ваш запрос на info@Start-Test.com или
обратитесь напрямую через русскую страницу нашего сайта.
|
5-2007
Введение в технологию граничного сканирования
1 статья цикла
|
|
6-2007
Регистры и команды граничного сканирования
2 статья цикла
|
|
7-2007
Язык описания структур граничного сканирования
3 статья цикла
|
|
8-2007
Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
4 статья цикла
|
|
1-2008
Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
5 статья цикла
|
|
2-2008
Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
6 статья цикла
|
|
3-2008
Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
7 статья цикла
|
|
4-2008
Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
8 статья цикла
|
|
7-2008
Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
9 статья цикла
|
|
1-2009
Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных линий
10 статья цикла
|
|
2-2009
Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
11 статья цикла
|
|
3-2009
Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ProVision и onTAP
12 статья цикла
|
|
4-2009
Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
13 статья цикла
|
|
5-2009
Введение во внутрисхемное тестирование (ICT)
14 статья цикла
|
|
6-2009
Тестопригодное проектирование для внутрисхемного тестирования ICT
15 статья цикла
|
|
7-2009
Эмуляция микропроцессоров и граничное сканирование при тестировании ПП
16 статья цикла
|
|
8-2009
Граничное сканирование в вопросах и ответах (ЧаВО)
17 статья цикла
|
|
1-2010
Внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA (стандарт IEEE 1532)
18 статья цикла
|
|
2-2010
Новые стандарты технологии граничного сканирования: IEEE P1581 и IEEE 1500
19 статья цикла
|
|
3-2010
Тенденции развития технологии граничного сканирования: новейшие стандарты IJTAG
(IEEE P1687), cJTAG (IEEE 1149.7), SJTAG
20 статья цикла
|
|
4-2010
Языки программирования тест-программ STAPL и STIL
21 (заключительная) статья цикла
|
|
Ежемесячная авторская колонка Ами Городецкого в московском журнале «КОМПОНЕНТЫ
и ТЕХНОЛОГИИ». Краткие обзоры отдельных аспектов структурного тестирования и тестопригодного
проектирования электронных схем и узлов
|
КиТ 2-2009
Тестирование и тестопригодное проектирование
|
Ежемесячная авторская колонка Ами Городецкого в белорусском журнале
Новости в области теории и практики тестопригодного проектирования, граничного сканирования
и внутрисхемного тестирования
Эл-Инфо 2-2009 Тестопригодное проектирование и граничное сканирование
Эл-Инфо 3-2009 Граничное сканирование или внутрисхемное тестирование?
|