|
На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной
выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский
СКК, пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи
читателей цикла статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного
проектирования" в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами
Городецким и Леонидом Куриланом.
Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с
примерами практической реализации современных методов тестирования электроники и
новой тестовой системой фирмы StarTest «JTAG: Диагностика дефектов», а также
получить в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла.
|
|
Технология граничного сканирования (Boundary Scan – BS, JTAG), определяемая стандартом
IEEE 1149.1/JTAG, утвердила себя как незаменимый инструмент при тестировании устройств
c ограниченным доступом к выводам ИС. Широкое применение многослойных печатных плат
с ИС в корпусах, изготовленных по технологиям BGA, COB и QFP, дало новый мощный
импульс развитию и повсеместному применению этой технологии. Граничное сканирование
используется также как средство доступа к внутренним регистрам микросхем для наблюдения
за их состоянием в процессе отладки электронных плат. Исключительно широко технология
JTAG применяется также для внутрисхемного программирования (On-board programming
- OBP), включающего в себя внутрисистемное программирование (ISP - In-System Programming)
и прожиг микросхем флэш-памяти. Под термином ISP обычно понимают внутрисхемное программирование
установленных на плату интегральных схем ПЛИС (CPLD, FPGA), а собственно термин
OBP относится к внутрисхемному программированию ИС флэш-памяти и ЭCППЗУ. Некоторые
наши публикации в этой области – на русском языке, в частности – одна из первых
на эту тему в московском журнале ChipNews. Все они свободно доступны через страницу
нашего сайта StarTest University
/ Papers.
Цикл статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования"
в московском журнале "Производство электроники"
Компания StarTest, уже несколько лет успешно работающая на израильском и
мировом рынке высоких технологий, специализируется именно на применении технологий
граничного сканирования (не только традиционной цифровой 1149.1, но также и аналоговых
1149.4 и 1149.6, и других – см. наш сайт) и методик тестопригодного проектирования
на различных уровнях электронной техники – от элементного до системного. Основательное
знакомство с технологией, опыт ее преподавания в университетах и колледжах, а также
многолетний опыт работы со всеми известными системами генерации тестов JTAG и широчайшие
контакты с большинством ведущих фирм и разработчиками во всем мире, делают компанию
StarTest одной из наиболее успешных в области электронного тестирования,
диагностики и тестопригодного проектирования.
Большинство сотрудников компании свободно владеют русским языком, и мы заинтересованы
в расширении наших контактов и услуг на русскоязычном пространстве всего мира. Установить
контакт с нами можно напрямую с этой страницы на русском языке или через Email Info@start-test.com.
Добро пожаловать в мир тестопригодного проектирования (DFT) и технологий граничного
сканирования (JTAG) с компанией StarTest!
Вот краткий список лишь некоторых из компаний, тесно сотрудничающих с нами, которые
представлены также на рынке электроники России:
|
|