Технология граничного сканирования (Boundary Scan – BS, JTAG), определяемая стандартом IEEE 1149.1/JTAG, утвердила себя как незаменимый инструмент при тестировании устройств c ограниченным доступом к выводам ИС. Широкое применение многослойных печатных плат с ИС в корпусах, изготовленных по технологиям BGA, COB и QFP, дало новый мощный импульс развитию и повсеместному применению этой технологии. Граничное сканирование используется также как средство доступа к внутренним регистрам микросхем для наблюдения за их состоянием в процессе отладки электронных плат. Исключительно широко технология JTAG применяется также для внутрисхемного программирования (On-board programming - OBP), включающего в себя внутрисистемное программирование (ISP - In-System Programming) и прожиг микросхем флэш-памяти. Под термином ISP обычно понимают внутрисхемное программирование установленных на плату интегральных схем ПЛИС (CPLD, FPGA), а собственно термин OBP относится к внутрисхемному программированию ИС флэш-памяти и ЭCППЗУ. Множество наших публикаций на эту тему на русском языке (в московских журналах «Производство электроники» и «Компоненты и технологии», а также в белорусском журнале «Электроника Инфо») свободно доступны со страницы нашего сайта JTAG TECT .

Цикл статей “Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования” в московском журнале “Производство электроники”

Компания StarTest™ (JTAG TECT), уже несколько лет успешно работающая на израильском и мировом рынке высоких технологий, специализируется именно на применении технологий граничного сканирования (не только традиционной цифровой 1149.1, но также и аналоговых 1149.4 и 1149.6, и других – см. наш сайт) и методик тестопригодного проектирования на различных уровнях электронной техники – от элементного до системного. Основательное знакомство с технологией, опыт ее преподавания в университетах и колледжах, а также многолетний опыт работы со всеми известными системами генерации тестов JTAG и широчайшие контакты с большинством ведущих фирм и разработчиками во всем мире, делают компанию StarTest™ (JTAG TECT) одной из наиболее успешных в области электронного тестирования, диагностики и тестопригодного проектирования.

Большинство сотрудников компании свободно владеют русским языком, и мы заинтересованы в расширении наших контактов и услуг на русскоязычном пространстве всего мира. Установить контакт с нами можно напрямую с этой страницы на русском языке или через Email Info@start-test.com.

Добро пожаловать в мир тестопригодного проектирования (DFT) и технологий граничного сканирования (JTAG) с компанией StarTest™ (JTAG TECT)!

Вот краткий список лишь некоторых из компаний, тесно сотрудничающих с нами, которые представлены также на рынке электроники России: