מעגל משולב המשתמש בממשק IEEE 1149.1 יוכל ליהנות מחסכון במספר הפינים בממשק הבדיקה
טכנולוגיות

ארגון IEEE פירסם את תקן הבדיקה וניפוי הבאגים 1149.7, המרחיב את הפונקציונליות של תקן 1149.1

תקן IEEE 1149.7 מציע פתרון גמיש ודינמי לאנשי תכנון ולמהנדסים המתמודדים עם פרדיגמות תכנון מתחלפות מבלי לשחוק את היסוד המוצק שנוצר על-ידי תקנים קודמים כמו IEEE 1149.1

יו"ר קבוצת העבודה IEEE 1149.7 רוב הושענה מ-Freescale אמר שכל מעגל משולב המשתמש בממשק IEEE 1149.1 עשוי לנצל תקן זה כדי לצמצם את מספר הפינים בממשק הבדיקה, תוך קבלת יכולות מתקדמות יותר.

התקן נותן מענה למעגלים דיגיטליים מורכבים, למגבלות גודל מקדם צורה ולריבוי עבדים המאפיינים מוצרי אלקטרוניקה מהדור הנוכחי. התכונות החדשות בתקן כוללות: אורכי שרשרת סריקה מופחתים, ארבעה אופני הספק שניתן לבחור ביניהם, פעולה בשני פינים, בדיקת מעקף שבב וטופולוגיית כוכב, וכן העברת נתונים ברקע המתבצעת במקביל לפעולות סריקה מתקדמות.