StarTest в России

StarTest на Международной промышленной выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel в Санкт-Петербурге

На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК, пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей цикла статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования" в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами Городецким и Леонидом Куриланом.

Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники и новой тестовой системой фирмы StarTest «JTAG: Диагностика дефектов», а также получить в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла.

Цикл статей на русском языке
Ами Городецкого и Леонида Курилана
"Основы технологии граничного сканирования (JTAG)
и тестопригодного проектирования (DFT)" в журнале

Для бесплатной отсылки на Ваш адрес полного текста любой из этих статей пришлите нам Ваш запрос на info@Start-Test.com или обратитесь напрямую через русскую страницу нашего сайта.

	5-2007 Введение в технологию граничного сканирования 1 статья цикла
	6-2007 Регистры и команды граничного сканирования 2 статья цикла
	7-2007 Язык описания структур граничного сканирования 3 статья цикла
	8-2007 Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования 4 статья цикла
	1-2008 Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования 5 статья цикла
	2-2008 Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress 6 статья цикла
	3-2008 Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP 7 статья цикла
	4-2008 Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4 8 статья цикла
	7-2008 Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах 9 статья цикла
	8-2008 ГС-тестирование дифференциальных линий (стандарт IEEE 1149.6) 10 статья цикла
	1-2009 Внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA (стандарт IEEE 1532) 11 статья цикла
	2-2009 Введение во внутрисхемное тестирование (ICT) 12 статья цикла
	3-2009 Тестопригодное проектирование для внутрисхемного тестирования ICT 13 статья цикла
	4-2009 Новые стандарты технологии граничного сканирования: IEEE P1581 и IEEE 1500 14 статья цикла
	5-2009 Тенденции развития технологии граничного сканирования: IJTAG (IEEE P1687), cJTAG (IEEE 1149.7), SJTAG 15 статья цикла
	6-2009 Эмуляция микропроцессоров и граничное сканирование при тестировании ПП 16 статья цикла
	7-2009 Языки программирования тест-программ STAPL и STIL 17 статья цикла
	8-2009 Граничное сканирование в вопросах и ответах (ЧаВО) 18 (заключительная) статья цикла