Russian Hebrew
Skip Navigation Links
About UsExpand About Us
SolutionsExpand Solutions
ProductsExpand Products
StarTest UniversityExpand StarTest University
Partners and Customers
Support
Contact Us

StarTest в России

StarTest на Международной промышленной выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel в Санкт-Петербурге

На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной выставке "Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК, пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей цикла статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования" в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами Городецким и Леонидом Куриланом.

Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники и новой тестовой системой фирмы StarTest «JTAG: Диагностика дефектов», а также получить в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла.






Цикл статей на русском языке
Ами Городецкого и Леонида Курилана
"Основы технологии граничного сканирования (JTAG)
и тестопригодного проектирования (DFT)" в журнале



Для бесплатной отсылки на Ваш адрес полного текста любой из этих статей пришлите нам Ваш запрос на info@Start-Test.com или обратитесь напрямую через русскую страницу нашего сайта.

5-2007
Введение в технологию граничного сканирования
1 статья цикла
6-2007
Регистры и команды граничного сканирования
2 статья цикла
7-2007
Язык описания структур граничного сканирования
3 статья цикла
8-2007
Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
4 статья цикла
1-2008
Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
5 статья цикла
2-2008
Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
6 статья цикла
3-2008
Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
7 статья цикла
4-2008
Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
8 статья цикла
7-2008
Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
9 статья цикла
8-2008
ГС-тестирование дифференциальных линий (стандарт IEEE 1149.6)
10 статья цикла
1-2009
Внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA (стандарт IEEE 1532)
11 статья цикла
2-2009
Введение во внутрисхемное тестирование (ICT)
12 статья цикла
3-2009
Тестопригодное проектирование для внутрисхемного тестирования ICT
13 статья цикла
4-2009
Новые стандарты технологии граничного сканирования:
IEEE P1581 и IEEE 1500
14 статья цикла
5-2009
Тенденции развития технологии граничного сканирования:
IJTAG (IEEE P1687), cJTAG (IEEE 1149.7), SJTAG
15 статья цикла
6-2009
Эмуляция микропроцессоров и граничное сканирование при тестировании ПП
16 статья цикла
7-2009
Языки программирования тест-программ STAPL и STIL
17 статья цикла
8-2009
Граничное сканирование в вопросах и ответах (ЧаВО)
18 (заключительная) статья цикла
Skip Navigation Links
Courses and Seminars
Tutorials
Papers
Test News Worldwide
StarTest in Russia