|
|
|
Продолжается публикация в московском журнале "Производство электроники"
цикла статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования"
|
На стенде Издательского Дома "ЭЛЕКТРОНИКА" на Международной промышленной выставке
"Радиоэлектроника и приборостроение" Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК,
пр. Гагарина 8, ст. метро «Парк Победы», Санкт-Петербург) состоятся встречи читателей
цикла статей "Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования"
в журнале "ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ" с авторами - Ами Городецким и Леонидом Куриланом.
Можно будет обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, познакомиться с
примерами практической реализации современных методов тестирования электроники и
новой тестовой системой фирмы StarTest «JTAG: Диагностика дефектов», а также получить
в подарок "флэшку" с уже опубликованными статьями цикла.
|
|
Upcoming scheduled classes in the High-Tech College (Herzlia, Israel)
Course No. 369 Design-For-Testability and Boundary-Scan (JTAG) Technologies
(5 days) - December 21, 2008
|
|
|
|
|
|
|